天瑞Skyray EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀

天瑞Skyray EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀

產品說明、技術參數及配置

EDXThick800是一款全新上照式多功能自動微區X熒光膜厚測試儀,既滿足原有微小和復雜形態樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析;搭載自動化的X/Y/Z軸的三維系統、雙激光定位和保護系統,可多點位編程測試,被廣泛應用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量。

儀器配置

01 獨立的X/Y/Z軸控制系統

02 微焦斑X光管

03 可變高壓電源

04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護

05 Fast-SDD探測器

06 雙激光定位裝置

07 標配可自動切換的準直孔和濾光片

軟件優勢

1、清晰化操作界面布局

簡約的布局設計,讓操作員快速的掌握軟件基本操作。

2、快捷鍵按鈕設計

增加了日常鍍層測量快捷鍵設計按鈕,可快速檢測,提升工作效率。

3、高清可視化窗口

可清晰直觀的觀測到被檢測樣品的狀態,通過自動對焦、移動快捷鍵,調節到用戶要求的觀測效果。

4、多通道數字譜圖界面

清晰化呈現被檢樣品的元素譜圖,配合先進的解譜技術,便可精準計算出結果。

5、測試結果匯總布局設計

可快速查找當前測試數據,并可對測試數據進行報告生成,且快速查詢以往測試數據。

天瑞EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀應用行業：

航天新能源

電子通訊

電鍍行業

高校及科研院

貴金屬鍍飾

磁性材料

天瑞Skyray EDX Thick 800 X熒光鍍層測厚儀